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SEM中原位高精度AFM的试用及研讨会
Time:2020-06-05ClickTimes:
place: 电镜实验室
time: 2019年11月26日-27日

捷克NenoVision公司将在电镜实验室开展SEM中原位AFM的试用,并计划召开小型研讨会,详细介绍如下,如有相关或感兴趣的研究内容,欢迎前来咨询,参加试用和研讨会!请相互转告,谢谢!

ThetaScope原位高精度AFM在SEM/FIB中实现原位分析。ThetaScope独特的探针和扫描电子显微镜技术(CPEM),可实现3D成像,实现原位形貌及对比、材料表面粗糙度及力学分析、金属材料元素分析、表面增强拉曼、生物细胞研究、针尖定位样品、FIB加工及缺陷检测等相关测试。

独特的探针和扫描电子显微镜技术(CPEM)

  • CPEM提供多维关联成像–可扩展为3D形貌。

  • 使用CPEM,可以快速准确地获得扫描电镜图像和区分材料的对比度。

  • CPEM以适当的方式将两个或多个SEM信号(如SE、BSE、EBIC等)与测量的形貌相关联。

  • CPEM可以在同一试样上,以相同的测量速度同时测量AFM和SEM。

  • 结合了AFM和SEM扫描系统,以得到精确的图像,同时消除漂移和其他不准确因素。

AFM尖端导航

  • 三轴分立、平板扫描轻松实现在SEM中的形貌呈现。

  • 100um*100um的大范围扫描范围,在闭环情况下,可以实现0.1nm的分辨率。

  • 将SEM和AFM相结合,极其精确、快速地将AFM尖端导航定位到亚微米区域,可应用于粒子分析、半导体、石墨烯结构等。

NenoVision公司网站:https://www.nenovision.com

电镜实验室试用时间及研讨会时间:2019年11月26日-27日

联系方式:010-62755266-127;zhurui@pku.edu.cn