捷克NenoVision公司将在电镜实验室开展SEM中原位AFM的试用，并计划召开小型研讨会，详细介绍如下，如有相关或感兴趣的研究内容，欢迎前来咨询，参加试用和研讨会！请相互转告，谢谢！

ThetaScope原位高精度AFM在SEM/FIB中实现原位分析。ThetaScope独特的探针和扫描电子显微镜技术（CPEM），可实现3D成像，实现原位形貌及对比、材料表面粗糙度及力学分析、金属材料元素分析、表面增强拉曼、生物细胞研究、针尖定位样品、FIB加工及缺陷检测等相关测试。

独特的探针和扫描电子显微镜技术（CPEM）

• CPEM提供多维关联成像–可扩展为3D形貌。

• 使用CPEM，可以快速准确地获得扫描电镜图像和区分材料的对比度。

• CPEM以适当的方式将两个或多个SEM信号（如SE、BSE、EBIC等）与测量的形貌相关联。

• CPEM可以在同一试样上，以相同的测量速度同时测量AFM和SEM。

• 结合了AFM和SEM扫描系统，以得到精确的图像，同时消除漂移和其他不准确因素。

AFM尖端导航

• 三轴分立、平板扫描轻松实现在SEM中的形貌呈现。

• 100um*100um的大范围扫描范围，在闭环情况下，可以实现0.1nm的分辨率。

• 将SEM和AFM相结合，极其精确、快速地将AFM尖端导航定位到亚微米区域，可应用于粒子分析、半导体、石墨烯结构等。

NenoVision公司网站：https://www.nenovision.com

电镜实验室试用时间及研讨会时间：2019年11月26日-27日

联系方式：010-62755266-127；zhurui@pku.edu.cn